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迷你KIP Ⅲ(携带式奈米级精密量测仪器) |
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特色： |
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迷你KIP Ⅲ 是一台携带式多功能3D奈米级的影像量仪，应用范围遍及PCB、WAFER、MEMS、IC-PACKAGING、MLCC、SOLAR BATTERY COATING、SOLDER BUMP、SMART CARD等产业。KIP Ⅲ 可以精确的把物体表面高低变化描绘出来，帮助您监控生产设备之稳定性，是您生产最佳之品保Partner。具有轻薄短小时代特性，超高灵活度，超高快速瞬间量测，超高光学分辨率，实际3D 量测数值，操作简易 。 |
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精确度:： |
X/Y: 0.3um, Z: <10nm |
检测速度： |
10-15 second/ check point |
量测内容： |
3D image, Topography, 2D profile, roughness |
量测范围： |
1600 x 1600 um – 260x260μm depend on object lens used |
量测深度： |
250μm – 75mm |
重量： |
28 kg |
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恺辉国际股份有限公司KAITRONIC TECHNOLOGY CO., LTD. |
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地址：320 桃园县中坜市新生路三段870号│E-mail：service@kaitronic.com |
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