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KIP Ⅲ 3D精密表面量測儀器 |
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特色: |
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KIP Ⅲ 是一台多功能3D奈米级的表面量仪,应用范围遍及PCB、WAFER、MEMS、IC-PACKAGING、MLCC、SOLAR BATTERY COATING、SOLDER BUMP、SMART CARD等产业。KIP Ⅲ 可以精确的把物体表面高低变化描绘出来,帮助您监控生产设备之稳定性,是您生产最佳之品保Partner |
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精确度:: |
X/Y: 0.3um, Z: 0.001um |
检测速度: |
10-15 second/ check point |
量测内容: |
3D image, Topography, 2D profile, Via hole depth/width, Line/space width/height, warpage, roughness, co-planarity, straightness, flatness. |
量测范围: |
510 x 610 mm |
量测深度: |
350 mm |
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恺辉国际股份有限公司KAITRONIC TECHNOLOGY CO., LTD. |
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地址:320 桃园县中坜市新生路三段870号│E-mail:service@kaitronic.com |
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电话:+886-3-453-3569│传真:+886-3-453-2113 |
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