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膜厚分析仪
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特色
- 可量测厚度范围10nm-400u
- 分辨率至0.1nm。
- 可量测薄膜材质、透明、半透明及极薄金属膜。
- 依据材质不同,可做穿透式量测多层组织。
- 超小光点可量测特定点厚度。
- 多通道机形,最多可量八个点厚度。
- 特制探头,可量测屈面形状。
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恺辉国际股份有限公司KAITRONIC TECHNOLOGY CO., LTD. |
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地址:320 桃园县中坜市新生路三段870号│E-mail:service@kaitronic.com |
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电话:+886-3-453-3569│传真:+886-3-453-2113 |
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